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半导体硅片测温专用型DY10PVT , 300~1400°C

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点击次数:601 更新时间:2017年02月08日17:20:51 打印此页 关闭

半导体硅片测温专用型红外测温仪DY10PVT

 


 

测温范围:300~1300°C 

 


 

波长:3.43μm

 

 

 

 

 

主要应用:

 

 

 

1) 半导体制造硅片测温

 


 

2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙)

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