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专注红外测温仪，红外热像仪领域
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低价格、半导体硅片红外测温仪DT40PVT , 300~2500°C
测温范围：300~1300°C ，400~1400°C ，500~2500°C
波长：3.43μm
最小可测目标：Φ1.6mm @ 95mm
主要应用：
1) 半导体制造硅片测温
2) 塑料薄膜（聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙）
