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晶体生长过程的德国DIAS红外测温仪应用

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点击次数:642 更新时间:2017年02月23日10:08:25 打印此页 关闭

产品详细描述



 晶体生长过程的德国DIAS红外测温仪应用

 

单晶硅炉常使用型号

 

1、二线制红外测温仪DG42NVT(350~1800°C)


2、二线制红外测温仪DS42NVT(600~2500°C)


3、二线制红外测温仪DG40NVT(350~1800°C)


4、二线制红外测温仪DS40NVT(600~2500°C)


5、四线制红外测温仪DG44NVT(350~1800°C)

 

6、四线制红外测温仪DS44NVT(600~2500°C)

 

多晶硅炉常使用双色红外测温仪


1、低价格双色红外测温仪DSR44NVT(700~1800°C)


2、中价格双色红外测温仪DSR54NVT(700~1800°C)


3、中价格双色红外测温仪DSR56NVT(700~1800°C)


4、高精度双色红外测温仪DSR10NVT(700~1800°C)

 

测量空间有限时,推荐使用光纤红外测温仪

 

1、二线制红外测温仪DSF40NVT(600~1800°C)


2、二线制红外测温仪DGF40NVT(350~1800°C)


3、四线制红外测温仪DSF44NVT(600~1800°C)


4、四线制红外测温仪DGF44NVT(350~1800°C)

 

简述


太阳能行业的晶圆生产需要用到单晶硅或多晶硅,是在所谓的晶体生长炉,即单晶硅炉或多晶硅炉拉晶生长的。

 

这种从炉内生长的单晶或多晶硅,是要从结晶炉(即单晶硅炉或多晶硅炉)熔液慢慢冷却生长出来的。测量这种过程的结晶熔液的温度很重要,同样控制这个结晶过程的加热元件的温度也很重要。这两种温度必须要协调好,才能确保最优的晶体生长过程。

 

太阳能单晶炉可使用的DIAS红外测温仪有10、40、44、54、56这些系列,都可以用来测量晶体生长的熔化温度,性价比较高的40、42、44系列型号有DS42NVT、DG42NVT或 DS40NVT、DG40NVT、DS44NVT、DG44NVT,均为短波红外测温仪,测温范围800 ~ 1800°C 或 800~2500 °C。

 

多晶硅炉也可使用双色红外测温仪DSR44NVT、DSR54NVT、DSR56NVT、DSR10NVT。其中44、54、56、10系列可以通过总线连接到现有控制系统。

 

在测量空间有限时,推荐使用光纤电缆和小光纤探头的光纤红外测温仪;低价格型号有DSF40NVT、DGF40NVT、DSF44NVT、DGF44NVT ,最小的光纤探头的光圈为12mm,测温范围可以选600~1800°C。另外,可以选择90°镜像附件或弯曲的光纤电缆。测量光斑仅仅几个毫米。

 

不管是哪一种测量任务,都可以选择好合适的红外测温仪参数,获得最优的效果,观测和控制获得最佳的晶体生长。





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